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磁粉探傷靈敏度試片A1\\C\\D\\M1 產(chǎn)品型號:磁粉探傷靈敏度試片A1 產(chǎn)品簡介:A型靈敏度試片最先由日本無損檢測學會提出,以后為多個國家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,在檢查中,對幾何形狀復雜,不同材質(zhì)的工作,可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢查探傷設備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁
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